尺寸公差经常被当作一句要求写进图纸，但「测」这个动作本身有方法问题。同一个件用卡尺测与用三坐标测，结果可能差出零点几毫米，而这个差值足以决定配合是否成立。量具的选择应当与公差等级对应。

一、三类量具的分工

常用量具可分三类。卡尺用于快速筛查与常规尺寸复核，量程覆盖宽、读数快，精度有限。三坐标用于关键配合尺寸的确认，能测形状与位置关系，测量前需要控制基准面与温度条件。塞规、环规等专用量规用于单一配合尺寸的直接判定，通止两端直接给出合格与否的结论，适合批量检验。选型原则是让量具的分辨能力至少优于公差要求的三分之一，否则读数本身就会吃掉公差空间。

二、卡尺：读数快，但测不准的地方

卡尺的常见问题有三类。量爪与被测面之间有间隙，测薄壁件或小尺寸时读数偏大；测量时未完全贴合、未归零，读数整体偏移；人手持握的角度与力度影响重复性，同一位置多次测量会有差异。因此卡尺适合做趋势判断与粗筛，不适合作为公差收紧尺寸的判定依据。对打印件而言，翘曲本身会让卡尺两爪无法完全贴合，测出的值往往是变形后的投影而非零件尺寸，这一项在首件确认阶段尤其要注意。

三、三坐标与专用量规

三坐标测量前有三项准备：确认测量基准与图纸标定的基准一致、件体在支撑上的姿态固定、测量环境温度稳定。打印件常因表面残留支撑痕或轻微翘曲而无法直接贴合测针，必要时需要用工装把件体撑平再测，撑平的方式必须在测量记录中写明，否则不同批次的数据无法比较。专用量规的成本在批量阶段摊薄后很低，用于单一配合尺寸反而比反复调整测量方法更省事。南京及周边的客户在样件评审阶段往往能当面比对实物，这一环节能明显降低后续量具方案返工的概率。

四、测量时机同样影响结果

出机后立刻测量与静置后测量，结果不同。光敏件需要完成清洗、固化与必要的稳定静置，表面附着残留液与未释放的内应力都会影响读数；FDM 件在出机后仍可能继续轻微翘曲，静置一段时间后配合尺寸才会稳定。测量记录里应写明测量时点与件体的静置状态。我方在首件确认的检验记录中固定这两个信息，便于后续补货时复现同一条件下的比对基准。

五、适用边界

此处只涉及尺寸的判定，不替代强度与配合功能的验证。公差合格不等于装配顺畅，装配验证仍需实际试装。对批量在数百件以上、配合尺寸集中在少数几处的产品，专用量规加卡尺筛查的组合比全面使用三坐标更经济。样件阶段的三坐标测量主要用于摸清工艺偏差规律，不建议在此阶段就按三坐标的读数去收紧图纸公差。我方工艺档案 100+，参数与检验结论按批次留存，同一版本补货时可直接复用测量基准。